Односторонняя полировка экспериментальные исследования высокой чистоты небольшой квадратный кусок SEM монокристаллическая силиконовая

Односторонняя полировка экспериментальные исследования высокой чистоты небольшой квадратный кусок SEM монокристаллическая силиконовая

Цена: $2.4
есть в наличии
Реклама: ООО "АЛИБАБА.КОМ (РУ)" ИНН: 7703380158

Описание

Монокристаллическая Кремниевая пластина (односторонняя полировка)
Особенности:Монокристаллическая подложка из кремния высокой чистоты si, тип N/P опционально, удельное сопротивление 0,0001-100 Ом, опционально
Роста режим:Straight без застежки
С украшением в виде кристаллов направленности:[111]/[100]
Это действительно плоский экран:<1 микрон (измеренная общая warpage)
Область применения:1. PVD/CVD покрытие как подложка
2. Используется как XRD (рентгеновский Дифракционный анализ), SEM (сканирующий электронный микроскоп), FTIR инфракрасный, флуоресцентный спектральный анализ тестовая подложка, AFM (атомный силовой микроскоп)
3. Синхротронное излучение тест-носитель образца
4. Молекулярный пучок эпитаксиальный рост подложки
5. Полупроводниковый процесс литографии и т. Д.
Классификация:Одиночный бросок 3 × 3 мм; Одиночный бросок 5 × 5 мм; Одиночный бросок 8 × 8 мм;
Одиночный бросок 10 × 10 мм; Одиночный бросок 5 × 15 мм; Одиночный бросок 10 × 20 мм;
Одиночный бросок 15 × 15 мм; Одиночный бросок 20 × 20 мм; Одиночный бросок 23 × 23 мм;
Одиночный бросок 30 × 30 мм; Одиночный бросок 40 × 40 мм; Одиночный бросок 50 × 50 мм;
Одиночный бросок 10 × 15 мм; Одиночный бросок 5 × 30 мм.
Примечание: Другое различных размеровМогут быть выполнены по индивидуальному заказу.

Односторонняя полировка экспериментальные исследования высокой чистоты небольшой квадратный кусок SEM монокристаллическая силиконоваяОдносторонняя полировка экспериментальные исследования высокой чистоты небольшой квадратный кусок SEM монокристаллическая силиконоваяОдносторонняя полировка экспериментальные исследования высокой чистоты небольшой квадратный кусок SEM монокристаллическая силиконоваяОдносторонняя полировка экспериментальные исследования высокой чистоты небольшой квадратный кусок SEM монокристаллическая силиконоваяОдносторонняя полировка экспериментальные исследования высокой чистоты небольшой квадратный кусок SEM монокристаллическая силиконоваяОдносторонняя полировка экспериментальные исследования высокой чистоты небольшой квадратный кусок SEM монокристаллическая силиконовая

Характеристики

Номер модели
SEM single crystal silicon wafer
Габаритные размеры
SEM single crystal silicon wafer
Стандартный
GB
Наличие стандарта
Стандарт
Материал
Другое

Комплектующие

Для покупки товара Односторонняя полировка экспериментальные исследования высокой чистоты небольшой квадратный кусок SEM монокристаллическая силиконовая нажмите кнопку "купить сейчас". Если вы хотите купить другой товар из категории обустройство дома или комплектующие то перейдите по ссылкам вверху страницы.