Описание
Монокристаллическая Кремниевая пластина (Двусторонняя полировка)
Особенности:Монокристаллическая подложка из кремния высокой чистоты si, тип N/P опционально, удельное сопротивление 0,0001-100 Ом, опционально
Роста режим:Straight без застежки
С украшением в виде кристаллов направленности:[111]/[100]/[110]
Это действительно плоский экран:<1 микрон (измеренная общая warpage)
Шероховатость поверхности:Около 5 ангстромов (измеренная топография поверхности)
Область применения:1. PVD/CVD покрытие как подложка
2. Используется как XRD (рентгеновский Дифракционный анализ), SEM (сканирующий электронный микроскоп), FTIR инфракрасный, флуоресцентный спектральный анализ тестовая подложка, AFM (атомный силовой микроскоп)
3. Синхротронное излучение тест-носитель образца
4. Молекулярный пучок эпитаксиальный рост подложки
5. Полупроводниковый процесс литографии и т. Д.
Классификация:6,25 × 6,25 × 0,5; 10 × 5 × 0,5; 10 × 10 × 0,5; 12,7 × 12,7 × 0,5; 15 × 15 × 0,5; 20 × 20 × 0,5; 25,4 × 25,4 × 0,5.
Примечание:Другие размеры могут быть изменены.






Для покупки товара SEM один кристалл кремния вафли Двусторонняя полировка экспериментальные исследования высокой чистоты один кристалл кремния вафли размер нажмите кнопку "купить сейчас".
Если вы хотите купить другой товар из категории обустройство дома или комплектующие то перейдите по ссылкам вверху страницы.