
Спецификация: один кристалл.4 × 4 × 0,4 ммПередача Длина волны:1200-14000nmОдносторонняя полировка, точечная.
Материал: Кремний высокой чистоты Si Одиночная кристаллическая подложка

Особенности: небольшой образец, более доступный
Модель роста: Czochralski
Кристалл & nbsp; Направление: [111]/[100]
Плоское; цельное; степень: <1 микрон
Применение применения:
1. PVD/CVD покрытие в качестве подложки;
2. Используется в качестве аналитических и испытательных субстратов для XRD, SEM, atomic force, инфракрасной спектроскопии, флуоресцентной спектроскопии,
3. Носитель образцов для синхротронного радиационного эксперимента;
4. Подложка для молекулярного роста эпитакси;
5. Технология полупроводниковой литографии и так далее.